Analyse par IA des Cartographies Txrf et Défectivité H/F - 38

Le CEA est un acteur majeur de la recherche, au service des citoyens, de l'économie et de l'Etat.

Il apporte des solutions concrètes à leurs besoins dans quatre domaines principaux : transition énergétique, transition numérique, technologies pour la médecine du futur, défense et sécurité sur un socle de recherche fondamentale. Le CEA s'engage depuis plus de 75 ans au service de la souveraineté scientifique, technologique et industrielle de la France et de l'Europe pour un présent et un avenir mieux maîtrisés et plus sûrs.

Implanté au coeur des territoires équipés de très grandes infrastructures de recherche, le CEA dispose d'un large éventail de partenaires académiques et industriels en France, en Europe et à l'international.

Les 20 000 collaboratrices et collaborateurs du CEA partagent trois valeurs fondamentales :

- La conscience des responsabilités
- La coopération
- La curiositéRejoignez-nous en Stage !

CEA Tech Corporate from CEA Tech on Vimeo.
En tant que stagiaire au CEA, vous aurez l'opportunité de travailler au sein d'un environnement de recherche de renommée mondiale. Nos équipes sont composées d'experts passionnés et dédiés, offrant un cadre propice à l'apprentissage et à la collaboration. Vous aurez accès à des équipements de pointe et à des ressources de recherche de premier ordre pour mener à bien vos missions.

Description du poste :
La maîtrise de la contamination métallique et particulaire est un point clé sur une plateforme de l'industrie du semiconducteur. La vigilance est doublement nécessaire dans un centre de recherche et développement (R&D), où la coexistence de différents projets augmente le risque de contaminations croisées. Dans ce contexte, un outil basé sur l'intelligence artificielle (IA) sera développé pour identifier des motifs récurrents dans un large ensemble d'images. Cela permettra de suivre les évolutions de la contamination et d'alerter en cas de dérive.
Objectifs:
1.Entraîner un modèle d'intelligence artificielle pour détecter les contaminants sur les plaques silicium en utilisant une banque d'images de total reflection X-ray fluorescence spectroscopy (TXRF) et de défectivité.
2.Développer une méthodologie pour obtenir :
Des corrélations entre contamination métallique et particulaire
L'identification des répartitions systématiquement identiques entre deux éléments chimiques analysés
L'identification des répartitions « types » pour certains métaux ou certaines contaminations particulaires (auréoles, traces mécaniques, couronnes...)
Les évolutions temporelles significatives de la répartition des contaminants
Au sein de la cellule contamination métallique vous travaillerez avec une équipe de 5 personnes.
Vous serez amené à travailler sur des projets stimulants et innovants.
Vous ajouterez votre touche sur des missions de type :
Compréhension de la dissémination de la contamination dans la salle blanche
Numérisation de contamination
En fonction des attendus de votre école, les sujets pourront être discutés.